作為輻射發(fā)射和輻射抗擾度測試的測試環(huán)境，除了常用的GTEM小室，電工委員會IEC還規(guī)定了基于TEM的測試方法，對應(yīng)的國內(nèi)標準是GB/T 17626.20 橫電磁波(TEM) 波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾度試驗。

　　TEM波導(dǎo)可分為開放式的比如帶狀線或者封閉式的比如GTEM小室，還可分為單端口，雙端口，多端口波導(dǎo)。TEM波導(dǎo)的適用頻率范圍取決于試驗要求和TEM波導(dǎo)的具體類型。

　　GTEM小室可看成是將50Ω同軸電纜進行空間上的擴展，以便容下被測對象。同軸電纜的芯線被擴展為GTEM小室的芯板，同軸電纜的外皮被做成GTEM小室的外殼。GTEM小室內(nèi)部的特性阻抗依舊被設(shè)計成50Ω，為了防止輸入的電磁波在內(nèi)部腔體的末端產(chǎn)生反射，把芯板的末端接到了寬帶的匹配負載上，在腔體的末端還安放了吸波材料以便將發(fā)射到末端的電磁波吸收。在GTEM波導(dǎo)內(nèi)的電磁波，橫向電磁波沿著芯板進行傳播，產(chǎn)生的電場強度與芯板上所施加的電壓成正比。不同位置的場的強度還取決于芯板的高度（內(nèi)導(dǎo)體與地之間的距離），越靠近隔板，場強就越強。

　　GTEM波導(dǎo)的尺寸可根據(jù)被測物的尺寸進行選擇，被測物要放置在GTEM波導(dǎo)內(nèi)部的末端，也就是門的位置附近。能夠測量的被測物的大尺寸取決于芯板的高度，也就是內(nèi)導(dǎo)體芯板與地之間的距離，通常可參照被測物的高度約為芯板的高度的0.33h， 可擴充至zui大0.5h。

　　GTEM小室是除了開闊場法(OATS)和電波暗室（SAC）之外電工委員會IEC所定義的另一種測試環(huán)境，同樣可以獲得有效的和可重復(fù)的測試結(jié)果，即可用于輻射發(fā)射測試也可用于輻射抗擾度測試。

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