GTEM小室構(gòu)成的輻射敏感度測(cè)試系統(tǒng)為小型電子產(chǎn)品的輻射電磁場(chǎng)干擾敏感性提供有力的測(cè)試依據(jù)。測(cè)試系統(tǒng)構(gòu)成：主要由標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源、功率放大器、場(chǎng)強(qiáng)監(jiān)視器、計(jì)算機(jī)及操控軟件和GTEM小室室體組成。

　　電磁兼容性的測(cè)量手段主要是由測(cè)試場(chǎng)地和測(cè)試儀器組成。常規(guī)的電磁兼容檢測(cè)方法有屏蔽室法、開闊場(chǎng)法、電波暗室法等。

　　屏蔽室：在EMC測(cè)試中，屏蔽室能提供環(huán)境電平低而恒定的電磁環(huán)境，它為測(cè)量精度的提高，測(cè)量的可靠性和重復(fù)性的改善帶來(lái)了較大的潛力。但是由于被測(cè)設(shè)備在屏蔽室中產(chǎn)生的干擾信號(hào)通過(guò)屏蔽室的六個(gè)面產(chǎn)生無(wú)規(guī)則的漫反射，特別是在輻射發(fā)射測(cè)量和輻射敏感度測(cè)量中表現(xiàn)更嚴(yán)重，導(dǎo)致在屏蔽室內(nèi)形成駐波而產(chǎn)生較大的測(cè)量誤差。

　　電波暗室：通常所說(shuō)的電波暗室在結(jié)構(gòu)上大都由屏蔽室和吸波材料兩部分組成。在工程應(yīng)用中又分全電波暗室和半電波暗室。全電波暗室可充當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)天線的校準(zhǔn)場(chǎng)地，半電波暗室可作為EMC試驗(yàn)場(chǎng)地。電波暗室的主要性能指標(biāo)有“靜區(qū)”、“工作頻率范圍”等六個(gè)。但建造電波暗室的成本、難度均相當(dāng)高，因?yàn)榘凳业墓ぷ黝l率的下限取決于暗室的寬度和吸收材料的長(zhǎng)度、上限取決于暗室的長(zhǎng)度和所充許的靜區(qū)的小截面積。且由于吸波材料的低頻特性等原因，總的測(cè)試誤差有時(shí)高達(dá)幾十分貝。

　　由于開闊場(chǎng)、屏蔽室和電波暗室的部分缺點(diǎn)，1974年美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局的專家首先系統(tǒng)的論述了GTEM小室，其外形為上下兩個(gè)對(duì)稱梯形。GTEM小室具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、檢測(cè)方法簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。標(biāo)準(zhǔn)GTEM小室的測(cè)量尺寸大約限定在設(shè)計(jì)的zui小工作波長(zhǎng)的四分之一范圍，但對(duì)于小尺寸的被測(cè)件，可以滿足測(cè)試的要求和技術(shù)指標(biāo)。